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測定顆粒大小的常用方法的比較

點擊次數:1343 發布時間:2013-04-19
測定顆粒大小的常用方法的比較
1.篩分  原理:依賴篩孔大小的機械分離作用。優點是簡單直觀。動態范圍較小,常用于大于40μm的顆粒測定。 缺點:速度慢,一次只能測量一個篩余值,不足以反映粒度分布;微小篩孔制作困難;誤差大,通常達到10%-20%;小顆粒由于團聚作用通過篩孔困難;有人 為誤差,導致可信度下降。
2.沉降  原理:斯托克斯定律。缺點:動態范圍窄;小粒子沉降速度很慢,對非球型粒子誤差大;由于密度一致性差,不適用于混合物料;重力沉降儀適用于10微米以上的粉體,如果顆粒很細則需要離心沉降。
3.庫爾特電阻法  原理:顆粒通過小孔時產生的電阻脈沖計數。優點:可以測定顆粒總數,等效概念明確;操作簡便。缺點:動態范圍小,1:20左右;對介質的電性能有嚴格要求;容易出現堵塞小孔現象。
4.顯微鏡法  原理:光學成像。優點:簡單直觀;可作形貌分析。缺點:動態范圍窄,1:20;測量時間長,約20分鐘;樣品制備操作較復雜;采樣的代表性差;對超細顆粒分散有一定的難度,受衍射極限的限制,無法檢測超細顆粒。
5.電鏡  原理:電子成像。優點:直觀;分辨率高。缺點:取樣量少,沒有代表性,樣品制備操作復雜;儀器價格昂貴。
6.激光粒度儀  原理:激光衍射/散射。優點:測量速度快,約1分鐘;動態范圍大,約1:1000以上;重復性好;準確度高,分辨率高;操作簡便;可對動態顆粒群進行跟蹤測試分析,是目前的粒度儀,在很多場合可替代其他測量方法,是粒度儀發展的方向。

 

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